Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: http://ela.kpi.ua/handle/123456789/11637
Title: Методика аналізу якості приладів на етапах вихідного контролю та випробувань
Other Titles: The method of analysis of devices quality at stages of the final control and tests
Методика анализа качества приборов на этапах выходного контроля и испытаний
Authors: Румбешта, В. О.
Андрусенко, О. О.
Rumbeshta, V. O.
Andrusenko, O. O.
Румбешта, В. А.
Андрусенко, Е. А.
Issue Date: 2005
Publisher: НТУУ "КПІ"
Citation: Румбешта В. О. Методика аналізу якості приладів на етапах вихідного контролю та випробувань / Румбешта В. О., Андрусенко О. О. // Вісник НТУУ «КПІ». Приладобудування : збірник наукових праць. – 2005. – Вип. 30. – С. 104–109. – Бібліогр.: 7 назв.
URI: http://ela.kpi.ua/handle/123456789/11637
Appears in Collections:Вісник НТУУ «КПІ». Приладобудування: збірник наукових праць, Вип. 30

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
8.1.Pdf1.39 MBAdobe PDFThumbnail
View/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.