Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: http://ela.kpi.ua/handle/123456789/17458
Title: Вимірювання НВЧ параметрів діелектричних матеріалів методом тонкого діелектричного резонатора
Other Titles: Measurement of the microwave parameters of the dielectric materials by the method of thin dielectric resonator
Измерение СВЧ параметров диэлектрических материалов методом тонкого диэлектрического резонатора
Authors: Молчанов, Віталій Іванович
Пашков, Валерій Маркович
Татарчук, Дмитро Дмитрович
Франчук, Антон Сергійович
Molchanov, V. І.
Pashkov, V. M.
Tatarchuk, D. D.
Franchuk, A. S.
Молчанов, В. И.
Пашков, В. М.
Татарчук, Д. Д.
Франчук, А. С.
Keywords: діелектрична проникність
тангенс кута діелектричних втрат
тонкий діелектричний резонатор
НВЧ параметри
чутливість методу
semiconductor materials
the loss tangent
the dielectric permittivity
the frequency dependence of losses
the conductivity
the quasi-Debye mechanism
диэлектрическая проницаемость
тангенс угла диэлектрических потерь
диэлектрический резонатор
СВЧ параметры
чувствительность метода
Issue Date: 2015
Publisher: НТУУ «КПІ»
Citation: Вимірювання НВЧ параметрів діелектричних матеріалів методом тонкого діелектричного резонатора / В. І. Молчанов, В. М. Пашков, Д. Д. Татарчук, А. С. Франчук // Електроніка та зв'язок : науково-технічний журнал. – 2015. – Т. 20, № 1(84). – С. 23–26. – Бібліогр.: 7 назв.
URI: http://ela.kpi.ua/handle/123456789/17458
Appears in Collections:Електроніка та зв'язок: науково-технічний журнал, Т. 20, № 1(84)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
EiS2015-1_03_Molchanov.pdf235.08 kBAdobe PDFThumbnail
View/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.