Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item:
Authors: Диденко, Юрий Викторович
Діденко, Юрій Вікторович
Didenko, Y.
Title: Частотные и температурные зависимости диэлектрических потерь в полупроводниках на СВЧ
Other Titles: Частотні та температурні залежності діелектричних втрат у напівпровідниках на НВЧ
Frequency and temperature dependences of the dielectric loss in semiconductors at UHF
Issue Date: 2015
Publisher: НТУУ «КПІ»
Keywords: полупроводниковые материалы
тангенс угла потерь
диэлектрическая проницаемость
частотная зависимость потерь
квазидебаевский механизм
напівпровідникові матеріали
тангенс кута втрат
діелектрична проникність
частотна залежність втрат
квазідебаєвський механізм
semiconductor materials
the loss tangent
the dielectric permittivity
the frequency dependence of losses
the conductivity
the quasi-Debye mechanism
Appears in Collections:Електроніка та зв'язок: науково-технічний журнал, Т. 20, № 3(86)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
EiS2015-3_01_Didenko.pdf223.77 kBAdobe PDFThumbnail
Show full item record

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.