Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: http://ela.kpi.ua/handle/123456789/19685
Authors: Олійник, Остап Олегович
Title: Підвищення чутливості вимірювання мікроскопу нестаціонарної фотопружності для дослідження матеріалів електроніки
Issue Date: 2017
Publisher: КПІ ім. Ігоря Сікорського
Keywords: підвищення чутливості
величина двопроменезаломлення
вимірювання фази
модуляційна поляриметрія
фотопружний мікроскоп
сенсор переміщення
sensitivity increase
the value of the birefringence
the phase measurement
modulation polarimetry
photoelastic microscope
displacement sensor
повышение чувствительности
величина двулучепреломления
измерения фазы
модуляционная поляриметрия
фотоупругий микроскоп
сенсор перемещения
Appears in Collections:Автореферати
Автореферати (вільний доступ)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Oliinyk_aref.pdf670.7 kBAdobe PDFThumbnail
View/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.