Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: http://ela.kpi.ua/handle/123456789/22977
Title: Метод прогнозування виходу придатних інтегральних мікросхем
Authors: Васильєв, Андрій Олегович
Advisors: Заворотний, Віктор Федорович
Keywords: тестування мікросхем
автоматичне тестувальне обладнання
статистичний аналіз
vlsi testing
automatic test equipment
time dependent defect
big data
Issue Date: 2018
Citation: Васильєв, А. О. Метод прогнозування виходу придатних інтегральних мікросхем : магістерська дис. : 153 Мікро- та наносистемна техніка / Васильєв Андрій Олегович. – Київ, 2018. – 93 с.
URI: http://ela.kpi.ua/handle/123456789/22977
Appears in Collections:Магістерські роботи
Магістерські роботи (МЕ)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Vasyliev_magistr.pdf2.29 MBAdobe PDFThumbnail
View/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.