Skip navigation
Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://ela.kpi.ua/handle/123456789/22977
Назва: Метод прогнозування виходу придатних інтегральних мікросхем
Автори: Васильєв, Андрій Олегович
Науковий керівник: Заворотний, Віктор Федорович
Ключові слова: тестування мікросхем
автоматичне тестувальне обладнання
статистичний аналіз
vlsi testing
automatic test equipment
time dependent defect
big data
Дата публікації: 2018
Бібліографічний опис: Васильєв, А. О. Метод прогнозування виходу придатних інтегральних мікросхем : магістерська дис. : 153 Мікро- та наносистемна техніка / Васильєв Андрій Олегович. – Київ, 2018. – 93 с.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://ela.kpi.ua/handle/123456789/22977
Розташовується у зібраннях:Магістерські роботи
Магістерські роботи

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
Vasyliev_magistr.pdf2.29 MBAdobe PDFЕскіз
Переглянути/відкрити
Показати повний опис матеріалу Перегляд статистики


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.