Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: http://ela.kpi.ua/handle/123456789/22977
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.advisorЗаворотний, Віктор Федорович-
dc.contributor.authorВасильєв, Андрій Олегович-
dc.date.accessioned2018-05-21T08:13:20Z-
dc.date.available2018-05-21T08:13:20Z-
dc.date.issued2018-
dc.identifier.citationВасильєв, А. О. Метод прогнозування виходу придатних інтегральних мікросхем : магістерська дис. : 153 Мікро- та наносистемна техніка / Васильєв Андрій Олегович. – Київ, 2018. – 93 с.uk
dc.identifier.urihttp://ela.kpi.ua/handle/123456789/22977-
dc.language.isoukuk
dc.subjectтестування мікросхемuk
dc.subjectавтоматичне тестувальне обладнанняuk
dc.subjectстатистичний аналізuk
dc.subjectvlsi testinguk
dc.subjectautomatic test equipmentuk
dc.subjecttime dependent defectuk
dc.subjectbig datauk
dc.titleМетод прогнозування виходу придатних інтегральних мікросхемuk
dc.typeMaster Thesisuk
dc.format.page93 c.uk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.description.abstractukЗменшення технологічного процесу, збільшення кількості транзисторів та металевих міжз'єднань в високоінтегрованих мікросхемах у відповідності з законом Мура призводить до збільшення кількості параметрів, які необхідно контролювати. Це в свою чергу призводить до генерації великої кількості вимірюваних даних, обробка і аналіз яких є ключем до оптимізації і контролю технологічного процесу. Контроль виходу придатних є надзвичайно важливою частиною мікроелектронної технології, оскільки від цього залежить як прямий економічний зиск від виробництва продукту, так і інші важливі економічні показники, такі як час для виходу на ринок та час валідації. Предметом дослідження даної роботи є розробка спеціального програмного забезпечення для автоматичного моніторингу стану процесу в реальному часі. В роботі описано можливості типового промислового обладнання для проведення тестування мікросхем та їх використання.uk
dc.description.abstractenReducing the process, increasing the number of transistors and metal connections in highly integrated circuits in accordance with Moore's law leads to an increase in the number of parameters that need to be monitored. This, in turn, leads to the generation of a large amount of measured data, processing and analysis of which are the key to optimization and control of the technological process. The control of the output of the fittings is an extremely important part of the microelectronic technology, since it depends on both direct economic benefits from product production and other important economic indicators, such as time to market and time of management. The subject of the study of this work is the development of a special software for the automatic monitoring of the status of the process in real time. The paper describes the possibilities of typical industrial equipment for the testing of microcircuits and their use.uk
Appears in Collections:Магістерські роботи
Магістерські роботи (МЕ)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Vasyliev_magistr.pdf2.29 MBAdobe PDFThumbnail
View/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.