Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: http://ela.kpi.ua/handle/123456789/25020
Title: Особенности проектирования вихретоковых дефектоскопов на микроконтроллерах
Other Titles: Design features of eddy current flaw detectors on the microcontrollers
Authors: Баженов, Виктор Григорьевич
Гльойник, К. А.
Keywords: frequency synthesizer
low cost
microcontrollers
DDS
eddy current flaw detector
DSP processors
small size
digital
Issue Date: 2016
Publisher: Институт по механика-БАН, Институт по информационни и комуникационни технологии-БАН
Citation: Баженов В. Г. Особенности проектирования вихретоковых дефектоскопов на микроконтроллерах / Баженов В. Г., Гльойник К. А. // Научни Известия НТСМ. – 2016. – № 1(187). – C. 46-49. – Бібліогр.: 9 назв.
URI: http://ela.kpi.ua/handle/123456789/25020
ISSN: 1310-3946
Appears in Collections:Статті (ПСНК)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Bazhenov2_NDTDAYS_2016.pdf626.66 kBAdobe PDFThumbnail
View/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.