Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: http://ela.kpi.ua/handle/123456789/26939
Title: Оптико-електронна система для виявлення дефектів клейових з’єднань оптичних деталей
Authors: Шкарівський, Руслан Анатолійович
Advisors: Маркін, Максим Олександрович
Keywords: оптико-електронна система
клейові з’єднання
дефекти
камера на базі матриці CMOS
ПВА
момент
епоксид
термопластичний
optoelectronic systems
adhesive compound
defects
camera based matrix CMOS
PVA
moments
epoxy
thermoplastic
Issue Date: Dec-2018
Citation: Шкарівський, Р. А. Оптико-електронна система для виявлення дефектів клейових з’єднань оптичних деталей : магістерська дис. : 152 Метрологія та інформаційно-вимірювальна техніка / Шкарівський Руслан Анатолійович. – Київ, 2018. – 92 с.
URI: http://ela.kpi.ua/handle/123456789/26939
Appears in Collections:Магістерські роботи
Магістерські роботи (НАЕПС)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Shakivskyi_magistr.docx5.42 MBMicrosoft Word XMLView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.