Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: http://ela.kpi.ua/handle/123456789/6457
Authors: Мазурок, Наталия Степановна
Advisors: Бакунцев, Александр Васильевич
Title: Физико-статистический метод определения надежности изделий твердотельной электроники
Issue Date: 2013
Keywords: фізико-статистична модель надійності
вироби твердотільної електроніки
дифузійний механізм деградації
критеріальні фізичні характеристики
однорідні і неоднорідні сукупності
физико-статистическая модель надежности
изделия ТТЭ
диффузионный механизм деградации
критериальные физические характеристики
однородные и неоднородные совокупности
physical-statistical model of reliability
solid-state electronics devices
diffusion mechanism of degradation
criterical physical characteristics
homogeneous and heterogeneous sets
Appears in Collections:Дисертації (доступ у чит. залі №11 НТБ)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Mazurok_diss.pdf
  Restricted Access
4.47 MBAdobe PDFView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.