Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: http://ela.kpi.ua/handle/123456789/9144
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorФилатов, Ю. Д.-
dc.contributor.authorСидорко, В. И.-
dc.contributor.authorФилатов, А. Ю.-
dc.contributor.authorЯщук, В. П.-
dc.contributor.authorХейсел, У.-
dc.contributor.authorСторчак, М.-
dc.contributor.authorФілатов, Ю. Д.-
dc.contributor.authorСідорко, В. І.-
dc.contributor.authorФілатов, О. Ю.-
dc.contributor.authorЯщук, В. П.-
dc.contributor.authorХейсел, У.-
dc.contributor.authorСторчак, М.-
dc.contributor.authorFilatov, Yu. D.-
dc.contributor.authorSidorko, V. I.-
dc.contributor.authorFilatov, A. Yu.-
dc.contributor.authorYashchuk, V. P.-
dc.contributor.authorHeisel, U.-
dc.contributor.authorStorchak, M.-
dc.date.accessioned2014-11-05T16:34:15Z-
dc.date.available2014-11-05T16:34:15Z-
dc.date.issued2008-
dc.identifier.citationРефлектометрия поверхностей деталей из неметаллических материалов при финишной алмазно-абразивной обработке / Филатов Ю. Д., Сидорко В. И., Филатов А. Ю., Ящук В. П., Хейсел У., Сторчак М. // Вісник НТУУ «КПІ». Приладобудування : збірник наукових праць. – 2008. – Вип. 36. – С. 95–104. – Бібліогр.: 6 назв.uk
dc.identifier.urihttp://ela.kpi.ua/handle/123456789/9144-
dc.language.isoruuk
dc.titleРефлектометрия поверхностей деталей из неметаллических материалов при финишной алмазно-абразивной обработкеuk
dc.title.alternativeРефлектометрія поверхонь деталей з неметалевих матеріалів при фінішній алмазно-абразивній обробціuk
dc.title.alternativeReflectometry of surfaces of details from non-metal materials at finish diamond-abrasive processinguk
dc.typeArticleuk
thesis.degree.level-uk
dc.format.pagerangeС. 95-104uk
dc.status.pubpublisheduk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.source.nameВісник НТУУ «КПІ». Приладобудування: збірник наукових працьuk
dc.subject.udc621.923uk
dc.description.abstractukПоказано, що найбільш релевантним параметром шорсткості, який визначається за коефіцієнтом відбивання світла, є Rz, а контроль шорсткості методом рефлектометрії ефективний для поверхонь з Rz≤0,3 мкм.uk
dc.description.abstractenIt was established that the most relevant parameter of roughness, which can be defined by the light reflection is Rz, and method of the surface roughness control using the light reflection factor is the most efficient for surfaces with roughness Rz ≤ 0,3 microns.uk
dc.description.abstractruПоказано, что наиболее релевантным параметром шероховатости, определяемым по коэффициенту отражения света, является Rz, а контроль шероховатости методом рефлектометрии эффективен для поверхностей с Rz≤0,3 мкм.uk
dc.publisherНТУУ "КПІ"uk
Appears in Collections:Вісник НТУУ «КПІ». Приладобудування: збірник наукових праць, Вип. 36

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
rozd_6_2.pdf2.37 MBAdobe PDFThumbnail
View/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.