Електронна та Акустична Інженерія: науково-технічний журнал, Т. 3, № 4

Постійне посилання зібрання

https://ela.kpi.ua/handle/123456789/54110

Переглянути

Перегляд Електронна та Акустична Інженерія: науково-технічний журнал, Т. 3, № 4 за Автор "Цибульський, О. С."

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
  • Ескіз
    ДокументВідкритий доступ
    Вимірювання п’єзоелектричних характеристик діодних структур на векторному аналізаторі «Обзор-103»
    (КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020) Цибульський, О. С.; Клименко, В. А.; Семікіна, Т. В.
    В роботі наведено результати дослідження напівпровідникових плівкових гетеро структур CdS-Cu2S та CdS-ZnS-Cu2S методом резонансу-антирезонансу. Виміри амплітудно-частотних характеристик було виконано за допомогою векторного аналізатору «Обзор-103». Викладена методика дослідження з використанням векторного аналізатору «Обзор-103». На основі визначених значень частот резонансу та антирезонансу зроблено розрахунки добротності досліджених гетеро структур та величини ємностей. Найбільші значення добротностей (~62) отримано для гетеро структури CdS-ZnS-Cu2S. Проведено аналіз отриманих результатів.