(КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2014) Миленький, В. В.; Мироненко, Ю. М.
Розглянуті алгоритми, що дозволяють визначити оптимальний відносно вибраного критерію час дискретизації опитування технологічних параметрів, що забезпечує достатню точність визначення цього параметра, попри дискретність звертання до вимірювальних пристроїв.