Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/12280
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorМірських, Г. О.-
dc.contributor.authorКузьменко, О. М.-
dc.contributor.authorMirskykh, G.-
dc.contributor.authorKuzmenko, O.-
dc.contributor.authorМирских, Г. А.-
dc.contributor.authorКузьменко, О. Н.-
dc.date.accessioned2015-08-10T17:03:43Z-
dc.date.available2015-08-10T17:03:43Z-
dc.date.issued2012-
dc.identifier.citationМірських, Г. О. Вплив на характеристики частотно-вибіркових мікрохвильових пристроїв параметрів включення / Г. О. Мірських, О. М. Кузьменко // Вісник НТУУ «КПІ». Радіотехніка, радіоапаратобудування : збірник наукових праць. – 2012. – № 49. – С. 129–135. – Бібліогр.: 4 назви.uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/12280-
dc.language.isoukuk
dc.subjectпараметри включенняuk
dc.subjectрандомізаціяuk
dc.subjectрозрахункова модельuk
dc.subjectімітаційне моделюванняuk
dc.subjectстатистичний аналізuk
dc.subjectзастосування мікрохвильових пристроївuk
dc.subjectinclusion parametersuk
dc.subjectrandomization, mathematical modeluk
dc.subjectsimulationuk
dc.subjectstatistical analysisuk
dc.subjectmicrowave devices characteristicsuk
dc.subjectmicrowave devices applicationuk
dc.subjectпараметры включенияuk
dc.subjectрандомизацияuk
dc.subjectрасчетная модельuk
dc.subjectимитационное моделированиеuk
dc.subjectстатистический анализuk
dc.subjectприменение СВЧ устройствuk
dc.titleВплив на характеристики частотно-вибіркових мікрохвильових пристроїв параметрів включенняuk
dc.title.alternativeInfluence of inclusion parameters on microwave devices characteristicsuk
dc.title.alternativeВлияние на характеристики частотно-избирательных устройств параметров включенияuk
dc.typeArticleuk
thesis.degree.level-uk
dc.format.pageС. 129-135uk
dc.status.pubpublisheduk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.source.nameВісник НТУУ «КПІ». Радіотехніка, радіоапаратобудування : збірник наукових працьuk
dc.subject.udc621.39uk
dc.description.abstractukХарактеристики мікрохвильових пристроїв залежать від параметрів включення, котрі в процесі проектування не враховуються, не зважаючи на існуючу тенденцію проектування на використання у різних умовах. Запропонований метод моделювання передбачає імітацію включення пристрою до трактів із довільними параметрами, що досягається завдяки рандомізації останніх, і дозволяє отримати характеристики пристроїв у складі різних трактів. Подальше статистичне оброблення отриманих результатів дає змогу визначити найбільш імовірні оцінки характеристик та прогнозувати їх можливі спотворенняuk
dc.description.abstractenMicrowave devices characteristics depend on parameters of inclusion, influ-ence of which is not taken into attention in designing process despite the trend of designing and using of microwave devices in different conditions.Methodology of inclusion parameters influence on microwave devices characteristics es-timation are proposed Methodology based on randomization of inclusion parameters simulates inclusion of devices in tracts with different parameters and gives possibility to get microwave devices characteristics in arbitrary tracts. Next statistical analysis allows to obtain estimation of characteristics and to forecast their distortionuk
dc.description.abstractruХарактеристики СВЧ устройств зависят от параметров включения, влияние которых, не смотря на тенденцию разработки и использования устройств в разных условиях, в процессе проектирования, как правило, не учитывается. Предложенный метод основан на имитации включения устройства в тракты с произвольными параметрами за счет рандомизации последних. При этом появляется возможность прогнозировать характеристики разрабатываемых устройств в составе разных трактов. Статистическая обработка результатов моделирования позволяет оценить характеристики устройств и их возможные искажения.uk
dc.publisherНТУУ «КПІ»uk
Appears in Collections:Вісник НТУУ «КПІ». Радіотехніка, радіоапаратобудування: збірник наукових праць, № 49

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
18.pdf361.05 kBAdobe PDFThumbnail
View/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.