Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/22983
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.advisorЯкименко, Юрій Іванович-
dc.contributor.authorСотніков, Володимир Едуардович-
dc.date.accessioned2018-05-21T08:27:12Z-
dc.date.available2018-05-21T08:27:12Z-
dc.date.issued2018-
dc.identifier.citationСотніков, В. Е. Інтегральна мікросхема для дослідження базових блоків аналогової схемотехніки : магістерська дис. : 153 Мікро- та наносистемна техніка / Сотніков Володимир Едуардович. – Київ, 2018. – 130 с.uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/22983-
dc.language.isoukuk
dc.subjectмікросхемотехнікаuk
dc.subjectбазові аналоговоі блокиuk
dc.subjectінтегральна схемаuk
dc.subjectкремній на ізоляторіuk
dc.subjectструмове дзеркалоuk
dc.subjectпідсилювачuk
dc.subjectдиференційна параuk
dc.subjectопорне джерело напругиuk
dc.subjectmicroelectronics designuk
dc.subjectbasic analog blocksuk
dc.subjectintegrated circuituk
dc.subjectsilicon on insulatoruk
dc.subjectcurrent mirroruk
dc.subjectamplifieruk
dc.subjectdifferential pairuk
dc.subjectvoltage referenceuk
dc.titleІнтегральна мікросхема для дослідження базових блоків аналогової схемотехнікиuk
dc.typeMaster Thesisuk
dc.format.page130 c.uk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.description.abstractukДипломна робота налічує 130 сторінок, 5 розділів, 96 ілюстрацій, 41 таблицю, 3 додатки та 28 джерел за переліком посилань. Об’єкт та предмет дослідження. Властивості базових блоків аналогової мікросхемотехніки. Залежність їх параметрів від геометричних розмірів та топології. Мета роботи. Аналіз особливостей роботи базових блоків аналогової мікросхемотехніки в сучасних субмікронних технологіях та розробка інтегральної мікросхеми, що дозволить вимірювати параметри та вивчати принципи їх роботи. Актуальність полягає у стрімкому розвитку мікроелектроніки та відсутності існуючих рішень, що дозволяють вивчати базові блоки на транзисторному рівні без використання професійного програмного забезпечення. Методи дослідження. Було проведено аналіз та комп’ютерне моделювання роботи базових блоків аналогової мікросхемотехніки. Порівняно роботу схем з різною топологією та архітектурою. Запропоновано ІМС, що дозволить проводити експериментальні вимірювання досліджуваних блоків на транзисторному рівні. Наукова новизна одержаних результатів. Запропоновано новий метод для оцінки впливу топології на величину випадкових похибок у струмових дзеркалах та диференційних парах, а також показано, що в сучасних субмікронних технологіях домінують зворотні ефекти короткого та вузького каналу. Практичне значення одержаних результатів. Результатом роботи є проект інтегральної схеми, що дозволяє вивчати особливості роботи базових блоків аналогової мікросхемотехніки. Після виготовлення, її можна використовувати при навчанні бакалаврів та/або магістрів за напрямком «Мікро- та наносистемна техніка» у таких дисциплінах як «твердотільна електроніка» або «Проектування напівпровідникових приладів та інтегральних мікросхем».uk
dc.description.abstractenThis paper consists of 130 pages, 5 sections, 96 pictures, 41 tables, 3 appendices and 28 references. The object and subject of this paper is basic analog microelectronics building blocks properties and their dependence on size, geometry and topology style. The purpose of the work is basic analog building blocks characteristics analysis in modern sub-micron technologies and development of an integrated circuit for conducting measurements and studying their operation. The relevance lies in the rapid development of microelectronics and the lack of existing solutions that allow studying of basic analog building blocks at the transistor level without using of professional software. Research methods. Basic analog building blocks analysis and computer simulation of their operation have been done. Operation of circuits with different topologies and architectures were compared. The IC, which allows carrying out experimental measurements of the investigated blocks at the transistor level, is proposed. Scientific novelty of the obtained results. A new method for estimating the influence of the topology on the magnitude of random errors in current mirrors and differential pairs is proposed. Reverse narrow channel effect and reverse short channel effect dominance is shown for modern submicron technologies. The practical value of the results. The result of this paper is the project of the integrated circuit, which allows studying of basic analog building blocks operation. After its manufacturing, it can be used for teaching purposes of bachelors and/or masters of Microelectronics in such disciplines as "solid state electronics" or "Design of semiconductor devices and integrated circuits".uk
Appears in Collections:Магістерські роботи
Магістерські роботи (МЕ)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Sotnikov_magistr.pdf14.21 MBAdobe PDFThumbnail
View/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.