1. ELAKPI
2. Наукова періодика
3. Електроніка та зв'язок: науково-технічний журнал
4. 2014
5. Electronics and Communications: научно-технический журнал, Т. 19, № 2(79)

Назва:	Detection of stresses induced by heat flux in a solid by using a photoelastic microscope
Інші назви:	Детектування індукованих тепловим потоком напружень в твердому тілі за допомогою фотопружного мікроскопу Детектирование индуцированных тепловым потоком напряжений в твердом теле с помощью фотоупругого микроскопа
Автори:	Matyash, I. E. Minaylova, I. A. Mischuk, O. N. Oliinyk, O. O. Serdega, B. K. Tsyganok, B. A. Матяш, І. Є. Міняйлова, I. A. Miщук, О. М. Олійник, O. O. Сердега, Б. К. Циганок, Б. А. Матяш, И. Е. Миняйлова, И. А. Мищук, А. М. Олийник, О. О. Сердега, Б. К. Цыганок, Б. А.
Ключові слова:	modulation polarimetry birefringence heat flow thermoelastisity photoelastic microscope модуляційна поляриметрія двопроменезаломлення тепловий потік термопружність фотопружний мікроскоп модуляционная поляриметрия двулучепреломление тепловой поток термоупругость фотоупругий микроскоп
Дата публікації:	2014
Видавництво:	НТУУ "КПИ"
Бібліографічний опис:	Detection of stresses induced by heat flux in a solid by using a photoelastic microscope / I. E. Matyash, I. A. Minaylova, O. N. Mischuk [et al.] // Electronics and Communications : научно-технический журнал. – 2014. – Т. 19, № 2(79). – С. 9–22. – Библиогр.: 20 назв.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу):	https://ela.kpi.ua/handle/123456789/10114
Розташовується у зібраннях:	Electronics and Communications: научно-технический журнал, Т. 19, № 2(79)

Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.