1. ELAKPI
2. Наукова періодика
3. Електроніка та зв'язок: науково-технічний журнал
4. 2015
5. Електроніка та зв'язок: науково-технічний журнал, Т. 20, № 1(84)

Title:	Вимірювання НВЧ параметрів діелектричних матеріалів методом тонкого діелектричного резонатора
Other Titles:	Measurement of the microwave parameters of the dielectric materials by the method of thin dielectric resonator Измерение СВЧ параметров диэлектрических материалов методом тонкого диэлектрического резонатора
Authors:	Молчанов, Віталій Іванович Пашков, Валерій Маркович Татарчук, Дмитро Дмитрович Франчук, Антон Сергійович Molchanov, V. І. Pashkov, V. M. Tatarchuk, D. D. Franchuk, A. S. Молчанов, В. И. Пашков, В. М. Татарчук, Д. Д. Франчук, А. С.
Keywords:	діелектрична проникність тангенс кута діелектричних втрат тонкий діелектричний резонатор НВЧ параметри чутливість методу semiconductor materials the loss tangent the dielectric permittivity the frequency dependence of losses the conductivity the quasi-Debye mechanism диэлектрическая проницаемость тангенс угла диэлектрических потерь диэлектрический резонатор СВЧ параметры чувствительность метода
Issue Date:	2015
Publisher:	НТУУ «КПІ»
Citation:	Вимірювання НВЧ параметрів діелектричних матеріалів методом тонкого діелектричного резонатора / В. І. Молчанов, В. М. Пашков, Д. Д. Татарчук, А. С. Франчук // Електроніка та зв'язок : науково-технічний журнал. – 2015. – Т. 20, № 1(84). – С. 23–26. – Бібліогр.: 7 назв.
URI:	https://ela.kpi.ua/handle/123456789/17458
Appears in Collections:	Електроніка та зв'язок: науково-технічний журнал, Т. 20, № 1(84)

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.