1. ELAKPI
2. Наукова періодика
3. Електроніка та зв'язок: науково-технічний журнал
4. 2015
5. Електроніка та зв'язок: науково-технічний журнал, Т. 20, № 1(84)

Назва:	Вимірювання НВЧ параметрів діелектричних матеріалів методом тонкого діелектричного резонатора
Інші назви:	Measurement of the microwave parameters of the dielectric materials by the method of thin dielectric resonator Измерение СВЧ параметров диэлектрических материалов методом тонкого диэлектрического резонатора
Автори:	Молчанов, Віталій Іванович Пашков, Валерій Маркович Татарчук, Дмитро Дмитрович Франчук, Антон Сергійович Molchanov, V. І. Pashkov, V. M. Tatarchuk, D. D. Franchuk, A. S. Молчанов, В. И. Пашков, В. М. Татарчук, Д. Д. Франчук, А. С.
Ключові слова:	діелектрична проникність тангенс кута діелектричних втрат тонкий діелектричний резонатор НВЧ параметри чутливість методу semiconductor materials the loss tangent the dielectric permittivity the frequency dependence of losses the conductivity the quasi-Debye mechanism диэлектрическая проницаемость тангенс угла диэлектрических потерь диэлектрический резонатор СВЧ параметры чувствительность метода
Дата публікації:	2015
Видавництво:	НТУУ «КПІ»
Бібліографічний опис:	Вимірювання НВЧ параметрів діелектричних матеріалів методом тонкого діелектричного резонатора / В. І. Молчанов, В. М. Пашков, Д. Д. Татарчук, А. С. Франчук // Електроніка та зв'язок : науково-технічний журнал. – 2015. – Т. 20, № 1(84). – С. 23–26. – Бібліогр.: 7 назв.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу):	https://ela.kpi.ua/handle/123456789/17458
Розташовується у зібраннях:	Електроніка та зв'язок: науково-технічний журнал, Т. 20, № 1(84)

Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.