https://ela.kpi.ua/handle/123456789/19685| Title: | Підвищення чутливості вимірювання мікроскопу нестаціонарної фотопружності для дослідження матеріалів електроніки |
| Authors: | Олійник, Остап Олегович |
| Keywords: | підвищення чутливості величина двопроменезаломлення вимірювання фази модуляційна поляриметрія фотопружний мікроскоп сенсор переміщення sensitivity increase the value of the birefringence the phase measurement modulation polarimetry photoelastic microscope displacement sensor повышение чувствительности величина двулучепреломления измерения фазы модуляционная поляриметрия фотоупругий микроскоп сенсор перемещения |
| Issue Date: | 2017 |
| Publisher: | КПІ ім. Ігоря Сікорського |
| Citation: | Олійник, О. О. Підвищення чутливості вимірювання мікроскопу нестаціонарної фотопружності для дослідження матеріалів електроніки : автореф. дис. … канд. техн. наук : 05.27.01 – твердотільна електроніка / Олійник Остап Олегович. – Київ, 2017. – 22 с. |
| URI: | https://ela.kpi.ua/handle/123456789/19685 |
| Appears in Collections: | Автореферати (вільний доступ) Автореферати (ЕПП) |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Oliinyk_aref.pdf | 670.7 kB | Adobe PDF |  View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.