https://ela.kpi.ua/handle/123456789/19685| Назва: | Підвищення чутливості вимірювання мікроскопу нестаціонарної фотопружності для дослідження матеріалів електроніки |
| Автори: | Олійник, Остап Олегович |
| Ключові слова: | підвищення чутливості величина двопроменезаломлення вимірювання фази модуляційна поляриметрія фотопружний мікроскоп сенсор переміщення sensitivity increase the value of the birefringence the phase measurement modulation polarimetry photoelastic microscope displacement sensor повышение чувствительности величина двулучепреломления измерения фазы модуляционная поляриметрия фотоупругий микроскоп сенсор перемещения |
| Дата публікації: | 2017 |
| Видавництво: | КПІ ім. Ігоря Сікорського |
| Бібліографічний опис: | Олійник, О. О. Підвищення чутливості вимірювання мікроскопу нестаціонарної фотопружності для дослідження матеріалів електроніки : автореф. дис. … канд. техн. наук : 05.27.01 – твердотільна електроніка / Олійник Остап Олегович. – Київ, 2017. – 22 с. |
| URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | https://ela.kpi.ua/handle/123456789/19685 |
| Розташовується у зібраннях: | Автореферати (вільний доступ) Автореферати (ЕПП) |
| Файл | Опис | Розмір | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Oliinyk_aref.pdf | 670.7 kB | Adobe PDF |  Переглянути/відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.