Skip navigation
Home
Browse
Communities
& Collections
Browse Items by:
Issue Date
Author
Title
Subject
Help
Language
українська
English
Sign on to:
My DSpace
Receive email
updates
Edit Profile
ELAKPI
Search
Search:
All of DSpace
Факультет електроніки (ФЕЛ)
Кафедра мікроелектроніки (МЕ)
Автореферати (МЕ)
Анотовані описи звітів про НДР (МЕ)
Бакалаврські роботи (МЕ)
Дисертації (МЕ)
Довідкові матеріали (МЕ)
Магістерські роботи (МЕ)
Матеріали конференцій, семінарів і т.п. (МЕ)
Монографії (МЕ)
Навчально-методичні матеріали (МЕ)
Презентації (МЕ)
Статті (МЕ)
Інше (МЕ)
for
Current filters:
Title
Author
Subject
Date Issued
ORCID
Has File(s)
Equals
Contains
ID
Not Equals
Not Contains
Not ID
Start a new search
Add filters:
Use filters to refine the search results.
Title
Author
Subject
Date Issued
ORCID
Has File(s)
Equals
Contains
ID
Not Equals
Not Contains
Not ID
Results 1-5 of 5 (Search time: 0.005 seconds).
previous
1
next
Item hits:
Issue Date
Title
Author(s)
2021
Обґрунтування вибору діелектрика та дослідження плівок діоксиду церію для МДН-структур
Королевич, Любомир Миколайович
2021
Обґрунтування вибору діелектрика та дослідження плівок діоксиду церію для МДН-структур
Борисов, Олександр Васильович
;
Королевич, Любомир Миколайович
2020
Визначення основних електрофізичних параметрів структур метал-діелектрик-напівпровідник за вольт-фарадними характеристиками
Королевич, Любомир Миколайович
;
Абраімов, Олексій Валерійович
2019-06
Методи знаходження поверхневих станів МДН-структур за допомогою вольт-фарадних характеристик
Королевич, Любомир Миколайович
;
Снісаренко, Ольга Вікторівна
2019-06
Дослідження електрофізичних властивостей МДН-структур за допомогою вольт-фарадних характеристик
Королевич, Любомир Миколайович
;
Самусь, Олександр Станіславович
Discover
Author
2
Королевич, Любомир Миколайович
1
Абраімов, Олексій Валерійович
1
Самусь, Олександр Станіславович
1
Снісаренко, Ольга Вікторівна
Subject
3
MIS structure
3
ВФХ
3
напруга плоских зон
2
effective charge in the dielectric
2
high-k
2
high-k dielectric
2
insulator choosing criterion
2
interstitial aspect of crystallin...
2
MIS-structure
2
specific gate capacitance
.
next >
Date issued
2
2019
2
2021
1
2020
Has File(s)
5
true