Визначення вимог до точності базування інфрачервоних об’єктивів при вимірюванні модуляційної передавальної функції

Опіч, А. В.; Кучеренко, О. К.

Повний запис метаданих

Поле DC	Значення	Мова
dc.contributor.author	Опіч, А. В.	-
dc.contributor.author	Кучеренко, О. К.	-
dc.date.accessioned	2018-08-07T10:43:19Z	-
dc.date.available	2018-08-07T10:43:19Z	-
dc.date.issued	2018	-
dc.identifier.citation	Опіч, А. В. Визначення вимог до точності базування інфрачервоних об’єктивів при вимірюванні модуляційної передавальної функції / А. В. Опіч, О. К. Кучеренко // XІ Науково-практична конференція студентів та аспірантів «Погляд у майбутнє приладобудування», 15-16 травня 2018 р., м. Київ, Україна : збірник статей / КПІ ім. Ігоря Сікорського, ПБФ. – Київ : Центр учбової літератури, 2018. – С. 154–158. – Бібліогр.: 5 назв.	uk
dc.identifier.uri	https://ela.kpi.ua/handle/123456789/24159	-
dc.language.iso	uk	uk
dc.source	XІ Науково-практична конференція студентів та аспірантів «Погляд у майбутнє приладобудування», 15-16 травня 2018 р., м. Київ, Україна : збірник статей	uk
dc.subject	інфрачервоні об’єктиви	uk
dc.subject	модуляційна передавальна функція	uk
dc.subject	стенди вимірювання МПФ	uk
dc.subject	точність вимірювання	uk
dc.title	Визначення вимог до точності базування інфрачервоних об’єктивів при вимірюванні модуляційної передавальної функції	uk
dc.type	Article	uk
dc.format.pagerange	С. 154-158	uk
dc.publisher.place	Київ	uk
dc.subject.udc	621.384.3	uk
dc.description.abstractuk	В роботі визначаються вимоги до точності базування інфрачервоних об’єктивів при вимірюванні модуляційної передавальної функції (МПФ). Важливість питання пов’язана з поширенням інфрачервоної техніки, зокрема до якості зображення, що створюють інфрачервоні об’єктиви. Основною характеристикою якості зображення є МПФ. При базуванні об’єктива в стенді для визначення МПФ можливі похибки розташування аналізатора якості зображення по відношенню до площини найкращою установки. Автори визначають вимоги до точності базування типових інфрачервоних об’єктивів в стенді вимірювання МПФ.	uk
dc.title.event	«Погляд у майбутнє приладобудування», XІ Науково-практична конференція студентів та аспірантів	uk
dc.event.date	2018-05-15	uk
dc.event.place	КПІ ім. Ігоря Сікорського, м. Київ, Україна	uk
dc.publisher	Центр учбової літератури	uk
Розташовується у зібраннях:	Секція 2. Оптичні та оптико-електронні прилади і системи

Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.