Skip navigation
DSpace logo
  1. ELAKPI
  2. Матеріали конференцій, семінарів і т.п.
  3. Погляд у майбутнє приладобудування (12 ; 2019 ; Київ)
  4. Секція 2. Оптичні та оптико-електронні прилади і системи
Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/27692
Повний запис метаданих
Поле DCЗначенняМова
dc.contributor.authorПашков, Ростислав Андрійович-
dc.date.accessioned2019-05-25T12:17:20Z-
dc.date.available2019-05-25T12:17:20Z-
dc.date.issued2019-
dc.identifier.citationПашков, Р. А. Критерії оцінювання якості зображень в оптико-електронних системах спостереження (на основі критерію TTP) / Р. А. Пашков // ХII Всеукраїнська науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених «Погляд у майбутнє приладобудування», 15-16 травня 2019 р., м. Київ, Україна : збірник праць / КПІ ім. Ігоря Сікорського, ПБФ. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2019. – С. 113–116. – Бібліогр.: 9 назви.uk
dc.identifier.isbn978-611-01-1465-3-
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/27692-
dc.description.abstractОписується нова модель ефективності цілевпізнавання, в якій використовується показник якості виконання задачі (TTP). Як і його попередник, відомі критерії Джонсона, нова модель передбачає, що дальність спостереження пропорційна якості зображення. Тому передбачається простота реалізації. На додаток до загальної кращої точності методика TTP може використовуватися для моделювання дискретизованих зображень, високочастотного посилення, небілого шуму та інших функцій сучасних зображень, які неможливо точно змоделювати за допомогою критеріїв Джонсона.uk
dc.language.isoukuk
dc.sourceХII Всеукраїнська науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених «Погляд у майбутнє приладобудування», 15-16 травня 2019 р., м. Київ, Україна : збірник працьuk
dc.subjectTTPuk
dc.subjectкритерії Джонсонаuk
dc.subjectодноканальні ОЕСuk
dc.subjectбагатоканальні ОЕСuk
dc.titleКритерії оцінювання якості зображень в оптико-електронних системах спостереження (на основі критерію TTP)uk
dc.typeArticleuk
dc.format.pagerangeС. 113-116uk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.subject.udc621.384uk
dc.title.event«Погляд у майбутнє приладобудування», ХII Всеукраїнська науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вченихuk
dc.event.date2019-05-15uk
dc.event.placeКПІ ім. Ігоря Сікорського, м. Київ, Українаuk
dc.publisherКПІ ім. Ігоря Сікорськогоuk
Розташовується у зібраннях:Секція 2. Оптичні та оптико-електронні прилади і системи

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
PUMPb-2019_Proceedings-Page113-116.pdf697.56 kBAdobe PDFЕскіз
Переглянути/відкрити
Показати базовий опис матеріалу Перегляд статистики


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.