Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/33189
Title: Hydrogen Peroxide Measurements by MISFET and LET Structures with Rear Porous Silicon Layer and Metallic Nanoparticles
Other Titles: Сенсори на польових та фототранзисторах з металевими наночастинками та пористим кремнієм
Сенсоры на полевих та фототранзисторах с металлическими наночастицами та пористым кремнием
Authors: Kutova, O. Yu.
Obukhova, T. Yu.
Dusheiko, M. G.
Loboda, B. O.
Borodinova, T. I.
Tkach, S. V.
Keywords: porous silicon
MISFET sensor
Pt nanoparticles
LET sensor
Ag nanoparticles
пористий кремній
МДН-транзистор
фототранзистор
наночастинки срібла
наночастинки платини
пористый кремний
МДП-транзистор
наночастички среребра
наночастички платины
Issue Date: 2018
Publisher: КПІ ім. Ігоря Сікорського
Citation: Hydrogen Peroxide Measurements by MISFET and LET Structures with Rear Porous Silicon Layer and Metallic Nanoparticles / O. Yu. Kutova, T. Yu. Obukhova, M. G. Dusheiko, B. O. Loboda, T. I. Borodinova, S. V. Tkach // Мікросистеми, Електроніка та Акустика : науково-технічний журнал. – 2018. – Т. 23, № 5(106). – С. 17–24. – Бібліогр.: 21 назв.
URI: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/33189
DOI: https://doi.org/10.20535/2523-4455.2018.23.5.141665
Appears in Collections:Мікросистеми, Електроніка та Акустика: науково-технічний журнал, Т. 23, № 5(106)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
MEA2018_23-5_p17-24.pdf511.48 kBAdobe PDFThumbnail
View/Open
Show full item record


This item is licensed under a Creative Commons License Creative Commons