Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/34896
Title: Використання електронно-оптичних дефектоскопів у неруйнівному контролі
Authors: Мамчур, Наталія Дмитрівна
Keywords: дефектоскопія
неруйнівний контроль
електронно-оптичний дефектоскоп
дефект
Issue Date: 2020
Publisher: КПІ ім. Ігоря Сікорського
Citation: Мамчур, Н. Д. Використання електронно-оптичних дефектоскопів у неруйнівному контролі / Н. Д. Мамчур // ХIII Науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених «Погляд у майбутнє приладобудування», 13-14 травня 2020 р., м. Київ, Україна : збірник праць конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020. – С. 273-276. – Бібліогр.: 7 назв.
URI: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/34896
Appears in Collections:Секція 7. Неруйнівний контроль, технічна та медична діагностика

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
P. 273-276.pdfmaterialy_konferentsii482.98 kBAdobe PDFThumbnail
View/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.