Skip navigation
Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/34896
Назва: Використання електронно-оптичних дефектоскопів у неруйнівному контролі
Автори: Мамчур, Наталія Дмитрівна
Ключові слова: дефектоскопія
неруйнівний контроль
електронно-оптичний дефектоскоп
дефект
Дата публікації: 2020
Видавництво: КПІ ім. Ігоря Сікорського
Бібліографічний опис: Мамчур, Н. Д. Використання електронно-оптичних дефектоскопів у неруйнівному контролі / Н. Д. Мамчур // ХIII Науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених «Погляд у майбутнє приладобудування», 13-14 травня 2020 р., м. Київ, Україна : збірник праць конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020. – С. 273-276. – Бібліогр.: 7 назв.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): https://ela.kpi.ua/handle/123456789/34896
Розташовується у зібраннях:Секція 7. Неруйнівний контроль, технічна та медична діагностика

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
P. 273-276.pdfmaterialy_konferentsii482.98 kBAdobe PDFЕскіз
Переглянути/відкрити
Показати повний опис матеріалу Перегляд статистики


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.