Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/39141
Title: Оценка потерь MOSFET транзисторов в ключевых ультразвуковых генераторах
Authors: Мовчанюк, А. В.
Вистизенко, Е. В.
Keywords: MOSFET
ключовий режим
статичні втрати
динамічні втрати
MOSFET
a switch mode
static losses
dynamic losses
MOSFET
ключевой режим
статические потери
динамические потери
Issue Date: 2015
Publisher: КПІ ім. Ігоря Сікорського
Citation: Мовчанюк, А. В. Оценка потерь MOSFET транзисторов в ключевых ультразвуковых генераторах / Мовчанюк А. В., Вистизенко Е. В. // Міжнародна науково-технічна конференція «Радіотехнічні поля, сигнали, апарати та системи» : матеріали конференції 16–22 березня 2015 р., м. Київ, Україна / КПІ ім. Ігоря Сікорського, РТФ. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2015. – С. 60–62. – Бібліогр.: 1 назва.
URI: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/39141
Appears in Collections:Секція 2. Проектування, технологія та експлуатація радіоелектронної техніки. Ультразвукова техніка

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
RTPSAS_2015_s2_t03.pdf394.27 kBAdobe PDFThumbnail
View/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.