1. ELAKPI
2. Матеріали конференцій, семінарів і т.п.
3. Радіотехнічні поля, сигнали, апарати та системи (2015)
4. Секція 2. Проектування, технологія та експлуатація радіоелектронної техніки. Ультразвукова техніка

Назва:	Оценка потерь MOSFET транзисторов в ключевых ультразвуковых генераторах
Автори:	Мовчанюк, А. В. Вистизенко, Е. В.
Ключові слова:	MOSFET ключовий режим статичні втрати динамічні втрати MOSFET a switch mode static losses dynamic losses MOSFET ключевой режим статические потери динамические потери
Дата публікації:	2015
Видавництво:	КПІ ім. Ігоря Сікорського
Бібліографічний опис:	Мовчанюк, А. В. Оценка потерь MOSFET транзисторов в ключевых ультразвуковых генераторах / Мовчанюк А. В., Вистизенко Е. В. // Міжнародна науково-технічна конференція «Радіотехнічні поля, сигнали, апарати та системи» : матеріали конференції 16–22 березня 2015 р., м. Київ, Україна / КПІ ім. Ігоря Сікорського, РТФ. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2015. – С. 60–62. – Бібліогр.: 1 назва.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу):	https://ela.kpi.ua/handle/123456789/39141
Розташовується у зібраннях:	Секція 2. Проектування, технологія та експлуатація радіоелектронної техніки. Ультразвукова техніка

Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.