Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/39143
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorНікітчук, А. В.-
dc.contributor.authorУваров, Борис Михайлович-
dc.date.accessioned2021-02-04T13:56:25Z-
dc.date.available2021-02-04T13:56:25Z-
dc.date.issued2015-
dc.identifier.citationНікітчук, А. В. Програмне забезпечення визначення температур та показників надійності елементів електронної структури РЕА / Нікітчук А. В., Уваров Б. М. // Міжнародна науково-технічна конференція «Радіотехнічні поля, сигнали, апарати та системи» : матеріали конференції 16–22 березня 2015 р., м. Київ, Україна / КПІ ім. Ігоря Сікорського, РТФ. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2015. – С. 66–67. – Бібліогр.: 2 назви.uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/39143-
dc.language.isoukuk
dc.sourceМіжнародна науково-технічна конференція «Радіотехнічні поля, сигнали, апарати та системи» : матеріали конференції, 16–22 березня 2015 р., м. Київ, Українаuk
dc.subjectнадійністьuk
dc.subjectмікрозбіркаuk
dc.subjectтеплові режимиuk
dc.subjectтеплова модельuk
dc.subjectРЕАuk
dc.subjectreliabilityuk
dc.subjectmicroassemblyuk
dc.subjectthermal conditionsuk
dc.subjectthermal modeluk
dc.subjectREDuk
dc.subjectнадежностьuk
dc.subjectмикросборкаuk
dc.subjectтепловые режимыuk
dc.subjectтепловая модельuk
dc.subjectРЭАuk
dc.titleПрограмне забезпечення визначення температур та показників надійності елементів електронної структури РЕАuk
dc.typeArticleuk
dc.format.pagerangeС. 66–67uk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.description.abstractukРозглянуто програмні модулі для розрахунку температур елементів електронної структури, а за ними показників показників надійності радіоелектронного апарату. Визначено перелік даних необхідних для розрахунку температурного поля чарунки чи мікрозбірки, а також для розрахунку показників надійності елементів електронної структури.uk
dc.description.abstractenReviewed software modules for the calculation of the temperatures of the electronic structure elements and the reliability of electronic equipment. The list of data needed to calculate the temperature field of cell or microassembly, and to calculations of reliability performance of the electronic structure elements were defined.uk
dc.description.abstractruРассмотрены программные модули для расчета температур элементов электронной структуры, а по ним показателей надежности радиоэлектронного аппарата. Определен перечень данных необходимых для расчета температурного поля ячейки или микросборки, а также для расчета показателей надежности элементов электронной структуры.uk
dc.publisherКПІ ім. Ігоря Сікорськогоuk
Appears in Collections:Секція 2. Проектування, технологія та експлуатація радіоелектронної техніки. Ультразвукова техніка

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
RTPSAS_2015_s2_t05.pdf388.9 kBAdobe PDFThumbnail
View/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.