https://ela.kpi.ua/handle/123456789/39143| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Нікітчук, А. В. | - |
| dc.contributor.author | Уваров, Борис Михайлович | - |
| dc.date.accessioned | 2021-02-04T13:56:25Z | - |
| dc.date.available | 2021-02-04T13:56:25Z | - |
| dc.date.issued | 2015 | - |
| dc.identifier.citation | Нікітчук, А. В. Програмне забезпечення визначення температур та показників надійності елементів електронної структури РЕА / Нікітчук А. В., Уваров Б. М. // Міжнародна науково-технічна конференція «Радіотехнічні поля, сигнали, апарати та системи» : матеріали конференції 16–22 березня 2015 р., м. Київ, Україна / КПІ ім. Ігоря Сікорського, РТФ. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2015. – С. 66–67. – Бібліогр.: 2 назви. | uk |
| dc.identifier.uri | https://ela.kpi.ua/handle/123456789/39143 | - |
| dc.language.iso | uk | uk |
| dc.source | Міжнародна науково-технічна конференція «Радіотехнічні поля, сигнали, апарати та системи» : матеріали конференції, 16–22 березня 2015 р., м. Київ, Україна | uk |
| dc.subject | надійність | uk |
| dc.subject | мікрозбірка | uk |
| dc.subject | теплові режими | uk |
| dc.subject | теплова модель | uk |
| dc.subject | РЕА | uk |
| dc.subject | reliability | uk |
| dc.subject | microassembly | uk |
| dc.subject | thermal conditions | uk |
| dc.subject | thermal model | uk |
| dc.subject | RED | uk |
| dc.subject | надежность | uk |
| dc.subject | микросборка | uk |
| dc.subject | тепловые режимы | uk |
| dc.subject | тепловая модель | uk |
| dc.subject | РЭА | uk |
| dc.title | Програмне забезпечення визначення температур та показників надійності елементів електронної структури РЕА | uk |
| dc.type | Article | uk |
| dc.format.pagerange | С. 66–67 | uk |
| dc.publisher.place | Київ | uk |
| dc.description.abstractuk | Розглянуто програмні модулі для розрахунку температур елементів електронної структури, а за ними показників показників надійності радіоелектронного апарату. Визначено перелік даних необхідних для розрахунку температурного поля чарунки чи мікрозбірки, а також для розрахунку показників надійності елементів електронної структури. | uk |
| dc.description.abstracten | Reviewed software modules for the calculation of the temperatures of the electronic structure elements and the reliability of electronic equipment. The list of data needed to calculate the temperature field of cell or microassembly, and to calculations of reliability performance of the electronic structure elements were defined. | uk |
| dc.description.abstractru | Рассмотрены программные модули для расчета температур элементов электронной структуры, а по ним показателей надежности радиоэлектронного аппарата. Определен перечень данных необходимых для расчета температурного поля ячейки или микросборки, а также для расчета показателей надежности элементов электронной структуры. | uk |
| dc.publisher | КПІ ім. Ігоря Сікорського | uk |
| Appears in Collections: | Секція 2. Проектування, технологія та експлуатація радіоелектронної техніки. Ультразвукова техніка | |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| RTPSAS_2015_s2_t05.pdf | 388.9 kB | Adobe PDF | ![]() View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.