Skip navigation
Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/6543
Назва: Визначення фізико-механічних характеристик поверхонь виробів наноелектроніки методом склерометрії
Інші назви: Determination of physical and mechanical descriptions of surfaces of wares nanoelectronics by method of sclerometry
Определение физико-механических характеристик поверхностей изделий наноэлектроники методом склерометрии
Автори: Білокінь, С. О.
Bilokon, S.
Билоконь, С. А.
Ключові слова: атомно-силова мікроскопія
мікротвердість
зносостійкість
наноелектроніка
склерометрія
atomic-force microscopy
microhardness
wearproofness
nanoelectronics
sclerometry
атомно-силовая микроскопия
микротвердость
износостойкость
наноэлектроника
склерометрия
Дата публікації: 2013
Видавництво: НТУУ "КПІ"
Бібліографічний опис: Білокінь С. О. Визначення фізико-механічних характеристик поверхонь виробів наноелектроніки методом склерометрії / Білокінь С. О. // Вісник НТУУ «КПІ». Приладобудування : збірник наукових праць. – 2013. – Вип. 46. – С. 112–117. – Бібліогр.: 5 назв.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): https://ela.kpi.ua/handle/123456789/6543
Розташовується у зібраннях:Вісник НТУУ «КПІ». Приладобудування: збірник наукових праць, Вип. 46

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
r7_1.pdf838.27 kBAdobe PDFЕскіз
Переглянути/відкрити
Показати повний опис матеріалу Перегляд статистики


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.