Аналіз чутливості фазового кута коефіцієнта відбиття хвилевідної вимірювальної комірки у випадку слабкопоглинаючого діелектрика

Семенов, А. О.; Семенова, О. О.; Чухов, В. В.; Semenov, A.; Semenova, E. A.; Chuhov, V.; Семенов, А. А.; Семенова, Е. А.; Чухов, В. В.

Full metadata record

DC Field	Value	Language
dc.contributor.author	Семенов, А. О.	-
dc.contributor.author	Семенова, О. О.	-
dc.contributor.author	Чухов, В. В.	-
dc.contributor.author	Semenov, A.	-
dc.contributor.author	Semenova, E. A.	-
dc.contributor.author	Chuhov, V.	-
dc.contributor.author	Семенов, А. А.	-
dc.contributor.author	Семенова, Е. А.	-
dc.contributor.author	Чухов, В. В.	-
dc.date.accessioned	2014-07-30T12:24:51Z	-
dc.date.available	2014-07-30T12:24:51Z	-
dc.date.issued	2011	-
dc.identifier.citation	Семенов, А. О. Аналіз чутливості фазового кута коефіцієнта відбиття хвилевідної вимірювальної комірки у випадку слабкопоглинаючого діелектрика / А. О. Семенов, О. О. Семенова, В. В. Чухов // Вісник НТУУ «КПІ». Радіотехніка, радіоапаратобудування : збірник наукових праць. – 2011. – № 45. – С. 130–138. – Бібліогр.: 8 назв.	uk
dc.identifier.uri	https://ela.kpi.ua/handle/123456789/8263	-
dc.language.iso	uk	uk
dc.subject	вимірювальна комірка	uk
dc.subject	коефіцієнт відбиття	uk
dc.subject	діелектрична проникність	uk
dc.subject	слабкопоглинаючий діелектрик	uk
dc.subject	measuring cell	uk
dc.subject	the reflection coefficient	uk
dc.subject	dielectric constant	uk
dc.subject	low loss dielectric	uk
dc.subject	измерительная ячейка	uk
dc.subject	коэффициент отражения	uk
dc.subject	диэлектрическая проницаемость	uk
dc.subject	слабопоглощающий диэлектрик	uk
dc.title	Аналіз чутливості фазового кута коефіцієнта відбиття хвилевідної вимірювальної комірки у випадку слабкопоглинаючого діелектрика	uk
dc.title.alternative	Sensitivity analysis of the phase angle of the reflection coefficient of waveguide measurement cell in the case of low loss dielectric	uk
dc.title.alternative	Анализ чувствительности фазового угла коэффициента отражения волноводной измерительной ячейки в случае слабо поглощающего диэлектрика	uk
dc.type	Article	uk
thesis.degree.level	-	uk
dc.format.page	С. 130-138	uk
dc.status.pub	published	uk
dc.publisher.place	Київ	uk
dc.subject.udc	621.317.3	uk
dc.description.abstractuk	При вимірюванні параметрів хвилевідної вимірювальної комірки у вигляді відрізка прямокутного хвилеводу з плоскошаровим діелектриком з точки зору точності вимірювань потрібно проаналізувати чутливість цих параметрів до зміни таких впливних величин, як довжина зразка, довжина хвилі, діелектрична проникність зразка. На сьогоднішній день здійснено аналіз чутливості модуля та аргументу коефіцієнта відбиття для діелектрика без втрат, а також для модулів коефіцієнтів відбиття та передачі у випадку слабкопоглинаючого діелектрика. Проте залишається відкритим питання про чутливість фазового кута коефіцієнта відбиття хвилевідної вимірювальної комірки у випадку слабкопоглинаючого діелектрика. В роботі дану задачу розв’язано шляхом застосування коефіцієнтів чутливості. Отримано аналітичнівирази цих коефіцієнтів чутливості, побудовано їхні частотні залежності та проаналізовано характер цих залежностей, у т. ч. при зміні довжини зразка та його комплексної діелектричної проникності. В цілому підтверджено доцільність проведення вимірювань на резонансних частотах, причому точність вимірювань буде більшою при довгих зразках, ніж при коротких, а довжина зразків обмежуватиметься, в першу чергу, чутливістю вимірювальних приладів.	uk
dc.description.abstracten	In problem for rectangular waveguide segment with dielectric layer parameters measurement we must analyze sensitivity these parameters to changes some influencing values, like segment length, wavelength and specimen dielectric permittivity. Analyze module and phase angle of reflection coefficient sensitivity for dielectric without loss and analyze module and phase angle of reflection and transmission coefficients sensitivity for low loss dielectric are made at present day. But we must know reflection coefficient phase angle sensitivity of waveguide measurement cell in case of low loss dielectric in some applied problems. In article this problem is solved by help of sensitivity coefficients. Analytical formulas for these coefficients are obtained and their frequency dependencies for segment length and complex dielectric permittivity changes are analyzed also. Measurements at resonant frequencies appropriateness are certified. But we obtain more accuracy, when we use longer specimen than shorter specimen, and specimen length is limited by measurement devices sensitivity even so.	uk
dc.description.abstractru	При измерении параметров волноводной измерительной ячейки в виде отрезка прямоугольного волновода с плоскослоистым диэлектриком с точки зрения точности измерений нужно проанализировать чувствительность этих параметров к изменению таких влияющих величин, как длина образца, длина волны, диэлектрическая проницаемость образца. На сегодняшний день осуществлен анализ чувствительности модуля и аргумента коэффициента отражения для диэлектрика без потерь, а также для модулей коэффициентов отражения и передачи в случае слабопоглощающего диэлектрика. При этом остается открытым вопрос о чувствительности фазового угла коэффициента отражения волноводной измерительной ячейки для слабопоглощающего диэлектрика. В работе эта задача решена с помощью коэффициентов чувствительности. Получены аналитические выражения этих коэффициентов чувствительности, построены их частотные зависимости и проанализирован характер этих зависимостей, в т.ч. при изменении длины образца и его комплексной диэлектрической проницаемости. В целом подтверждена целесообразность проведения измерений на резонансных частотах, причем точность измерений будет большей при длинных образцах, нежели при коротких, а длина образцов будет ограничена, в первую очередь, чувствительностью измерительных приборов.	uk
dc.publisher	НТУУ «КПІ»	uk
Appears in Collections:	Вісник НТУУ «КПІ». Радіотехніка, радіоапаратобудування: збірник наукових праць, № 45