Балышева, Ольга ЛеонидовнаКлудзин, Виктор ВладимировичКулаков, Сергей ВикторовичШакин, Олег Васильевич2018-10-142018-10-142014Акустооптический метод неразрушающего контроля качества кристаллов для акустоэлектроники / О. Л. Балышева, В. В. Клудзин, С. В. Кулаков, О. В. Шакин // Известия высших учебных заведений. Радиоэлектроника. – 2014. – Т. 57, № 11 (629). – C. 31–37. – Библиогр.: 15 назв.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/24810Полный текст доступен на сайте издания по подписке: http://radio.kpi.ua/article/view/S0021347014110041ruакустоэлектроникаакустооптикаакустооптический методнеразрушающий контролькристаллметод теневых изображенийакустическая волнаАкустооптический метод неразрушающего контроля качества кристаллов для акустоэлектроникиArticleС. 31-37https://doi.org/10.20535/S0021347014110041534:621.382