Емельянов, А. В.Казанский, А. Г.Кашкаров, П. К.Ларкин, С. Ю.Новиков, Е. И.Форш, П. А.Хенкин, М. В.2013-08-122013-08-122012Исследование спектральных зависимостей коэффициента поглощения в тонких пленках гидрированного кремния методом постоянного фототока с модулированным возбуждением / А. В. Емельянов, А. Г. Казанский, П. К. Кашкаров, С. Ю. Ларкин, Е. И. Новиков, П. А. Форш, М. В. Хенкин // Электроника и связь : научно-технический журнал. – 2012. – № 2(67). – С. 5–9. – Библиогр.: 8 назв.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/3459ruпротокристаллический кремниймоносиланкремниевый нанокристаллрамановская спектроскопияметод постоянного фототокафотопроводимостьспектр поглощенияИсследование спектральных зависимостей коэффициента поглощения в тонких пленках гидрированного кремния методом постоянного фототока с модулированным возбуждениемArticleС. 5-9535.341.08:621.315.592