Королевич, Любомир МиколайовичСнісаренко, Ольга Вікторівна2019-08-232019-08-232019-06Снісаренко, О. В. Методи знаходження поверхневих станів МДН-структур за допомогою вольт-фарадних характеристик : дипломна робота … бакалавра : 6.050801 Мікро- та наноелектроніка / Снісаренко Ольга Вікторівна. – Київ, 2019. – 56 с.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/28871Дипломна робота виконана на 55 сторінках, вони містять 4 розділи, 26 ілюстрацій та 15 джерел у списку посилань. Об’єктом дослідження є вольт-фарадні характеристики МДН-структури. Предметом є порівняльний аналіз відомих методів дослідження поверхневих станів МДН-структури та їх удосконалення. Метою роботи є розкриття проблеми про недосконалість методів дослідження поверхневих станів МДН-структури та пошук методів їх удосконалення. У першому розділи розглянуто електронні процеси, що відбуваються в середині МДН-структури та на границі поділу діелектрик-напівпровідник. У другому проведено аналіз диференційного методу аналізу поверхневих станів МДН-структури та його недоліки. У третьому проведено експериментальне визначення щільності поверхневих станів за допомогою методу Термана. Четвертий розділ присвячений розробці методу знаходження напруги плоских зон та удосконалення методу Термана на його основі.ukМДН-структураВФХнапруга плоских зонметод Терманаповерхневі станиMIS-structureМетоди знаходження поверхневих станів МДН-структур за допомогою вольт-фарадних характеристикBachelor Thesis56 с.