Бакунцев, Александр ВасильевичМазурок, Наталия Степановна2013-12-182013-12-182013Мазурок Н.С. Физико-статистический метод определения надежности изделий твердотельной электроники : дисс. ... канд. техн. наук. : 05.27.01 – твердотельная электроника. - К., 2013. - 138 л. + CD-ROMhttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/6457ruДисертація захищена авторським правом. Переглянути її можливо з цього джерела з будь-якою метою, але копіювання та розповсюдження в будь-якому форматі забороняється без письмового дозволу.фізико-статистична модель надійностівироби твердотільної електронікидифузійний механізм деградаціїкритеріальні фізичні характеристикиоднорідні і неоднорідні сукупностіфизико-статистическая модель надежностиизделия ТТЭдиффузионный механизм деградациикритериальные физические характеристикиоднородные и неоднородные совокупностиphysical-statistical model of reliabilitysolid-state electronics devicesdiffusion mechanism of degradationcriterical physical characteristicshomogeneous and heterogeneous setsThesis Doctoral138 л.621.382