Андрієнко, О. І.Бондаренко, М. О.Бондаренко, Ю. Ю.Антонюк, В. С.2020-05-142020-05-142020-05Перспективи застосування матриці зондів на єдиній основі для атомно-силового мікроскопу / Андрієнко О. І., Бондаренко М. О., Бондаренко Ю. Ю., Антонюк В. С. // XІХ Міжнародна науково-технічна конференція «Приладобудування: стан і перспективи», 13-14 травня 2020 р., Київ, Україна : збірник матеріалів конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020. – С. 36–37. – Бібліогр.: 2 назви.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/33460ukатомно-силова мікроскопіяматриця зондівінструментальний мікроскопточне приладобудуванняArticleC. 36-3753.084.2