Майор, А. Ю.Самойліченко, О. В.2022-08-172022-08-172022Майор, А. Ю. Метрологічні аспекти процесів генної інженерії / Майор А. Ю., Самойліченко О. В. // XХI Міжнародна науково-технічна конференція “Приладобудування: стан і перспективи”, 17 – 18 травня 2022 р., Київ, Україна : збірник матеріалів конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2022. – С. 263-265. – Бібліогр.: 3 назви.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/49469ukгенна інженеріяметрологічне забезпеченнятранскрипційна одиницяArticleC. 263-265006.91:681.121