Revutska, L. O.Shylenko, O. I.Stronski, A. V.Komanicky, V.Bilanych, V. S.2021-03-302021-03-302020The Formation of Surface Nanostructures on As-S-Ge Chalcogenide Film After E-Beam Exposure / L. O. Revutska, O. I. Shylenko, A. V. Stronski, V. Komanicky, V. S. Bilanych // Наукові вісті КПІ : міжнародний науково-технічний журнал. – 2020. – № 1(128). – С. 48–53. – Бібліогр.: 23 назви.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/40334enchalcogenide thin filmselectron beam irradiationsurface nanostructuresхалькогенідні тонкі плівкиелектронно-променевий записповерхневі наноструктуритонкие халькогенидные пленкиэлектронно-лучевая записьповерхностные наноструктурыThe Formation of Surface Nanostructures on As-S-Ge Chalcogenide Film After E-Beam ExposureФормування поверхневих наноструктур на халькогенідній плівці As-S-Ge після опромінення електронним пучкомФормирование поверхностных наноструктур на халькогенидной пленке As-S-Ge после облучения электронным пучкомArticlePp. 48-53https://doi.org/10.20535/kpi-sn.2020.1.197958537.533.9