Котовський, Віталій ЙосиповичШевчук, Вікторія Сергіївна2019-02-182019-02-182018-12Шевчук, В. С. Застосування засобів інфрачервоної термографії для виявлення структурних дефектів фотоелектричних сонячних елементів : магістерська дис. : 104 Фізика та астрономія / Шевчук Вікторія Сергіївна. – Київ, 2018. – 88 с.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/26395Мета дослідження: Розроробка методу інфрачервоної термографії для виявлення дефектів сонячних елементів при нагріванні їх темновим струмом на етапі виготовлення та зборки. Об’єкт дослідження: Фотоелектричні сонячні елементи. Предмет дослідження: Наявність структурних дефектів у фотоелектричних сонячних елементах. Завдання дослідження: Дослідити фотоелектричні сонячні елементи на наявність структурних дефектів. Методи дослідження: Метод інфрачервоної термографії. Результати дослідження: Запропонованоно метод термографії СЕ для виявлення дефектів при нагріванні зворотним темновим струмом, що дозволяє виявляти дефекти типу електричного пробою і мають характер резистивного шунта, в окремих СЕ або у сонячних батареях. Галузь застосування: термографія, сонячна енергетика та екологія. Структура роботи: У роботі міститься 74 сторінки та 29 рисунків. Список використаних джерел містить 59 найменувань.ukІЧТсонячний елементтемновий струмтермографдефекти СЕінфрачервона термографіяфотоелектричні сонячні батареїФЕСБFMRnickel nanowiresporous matrix of aluminum oxideresonance spectrummagnetizationanisotropymagnetic fieldMaster Thesis88 с.