Мацепа, С. М.Антоненко, С. В2025-03-252025-03-252024Мацепа, С. М. Комп'ютеризована система моніторингу параметрів електронно-променевого оброблення оптичних компонентів комп’ютерних систем / Мацепа С. М., Антоненко С. В // Вісник КПІ. Серія Приладобудування : збірник наукових праць. – 2024. – Вип. 68(2). – С. 43-49. – Бібліогр.: 13 назв.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/73071Розроблена комп’ютеризована система моніторингу параметрів електронно-променевого оброблення оптичних компонентів є сучасним рішенням для забезпечення точного контролю технологічних параметрів у реальному часі. Система базується на мікропроцесорному блоці керування, що забезпечує інтеграцію всіх компонентів через CAN-шину та високовольтний оптичний інтерфейс. Основними функціями системи є моніторинг напруги на катоді, модуляторі, струмі розжарення, електронного потоку та коригування цих параметрів у процесі оброблення. Завдяки адаптивному регулюванню система дозволяє досягти стабільності параметрів електронно-променевого оброблення, що підтверджено низьким рівнем відхилень напруги (до ±2%) та рівномірністю нанесення плівкових покриттів (до ±5%). Використання високовольтного оптичного інтерфейсу мінімізує втрати сигналу та підвищує точність передачі даних. Система легко інтегрується з комп’ютерними системами через USB-інтерфейс, забезпечуючи можливість підключення додаткових сенсорів для розширення функціональних можливостей. Результати апробації, проведеної на базі електронно-променевої установки УВН-71, продемонстрували значні переваги системи. Вона дозволяє зменшити дефекти поверхні, підвищити рівномірність оброблення та мінімізувати втрати оптичних матеріалів. Запропоноване рішення є критично важливим для виробництва високоякісних оптичних компонентів, які використовуються в сучасних комп’ютерних системах, забезпечуючи відповідність найсуворішим стандартам якості. Таким чином, розроблена комп’ютеризована система моніторингу сприяє оптимізації процесів електронно-променевого оброблення, підвищенню продуктивності та якості продукції, відкриваючи нові можливості для індустрії оптичних компонентів.ukкомп'ютеризована системамоніторингелектронно-променеве обробленняоптичний компонентмікропроцесорний блок керуваннятехнологічний параметрcomputerized systemmonitoringelectron beam processingoptical componentmicroprocessor control unittechnological parameterArticleС. 43-49https://doi.org/10.20535/1970.68(2).2024.318195004.4:621.373.826:681.7.0680000-0001-9473-22850000-0001-5711-6758