Піддубний, Володимир ОлексійовичГрицевич, Іван Ростиславович2018-12-272018-12-272018Грицевич, І. Р. Пристрій вимірювання параметрів напівпровідникових приладів для формування їх математичних моделей САПР : магістерська дис. : 172 Радіотехнічні інформаційні технології / Грицевич Іван Ростиславович – Київ, 2018. – 101 с.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/25543ukтранзисторний характерографпараметри напівпровідниківмодель Гумеля-Пунапараметри моделі САПРвольт-амперні характеристикиamper-volt characteristics.transistor curve tracersemiconductor parametersGummel-Poon modelCAD model parametersПристрій вимірювання параметрів напівпровідникових приладів для формування їх математичних моделей САПРMaster Thesis101 с.621.382.2/.3