Куліков, В. М.2023-08-162023-08-162012Куліков, B. Підхід до побудови тестів перевірки цифрових пристроїв на надвеликих інтегральних схемах / Куліков В. М. // Information Technology and Security. – 2012. – Vol. 1, Iss. 1 (1). – Pp. 83–92. – Bibliogr.: 13 ref.2411-1031 (Print)2518-1033 (Online)https://ela.kpi.ua/handle/123456789/59248Розглядається проблема скорочення перебору при побудові повних тестів перевірки цифрових пристроїв, розроблених із використанням надвеликих інтегральних схем. Процес побудови тесту для заданої несправності приводиться до вигляду пошуку термінальної вершини в дереві призначення сигналів. Для скорочення перебору пропонується застосовувати метод сфокусованого пошуку, розроблений як загальнотеоретичний метод пошуку рішення в системах продукційного типу. Описано результати експериментів із комбінаційними схемами.ukArticlePp. 83-92https://doi.org/10.20535/2411-1031.2012.1.1.53673681.326.7