Квасніков, В. П.Катаєва, М. О.2022-07-252022-07-252022Квасніков, В. П. Підвищення точності розпізнавальної системи скануючого зондового мікроскопа / Квасніков, В. П., Катаєва, М. О. // XХI Міжнародна науково-технічна конференція “Приладобудування: стан і перспективи”, 17–18 травня 2022 р., Київ, Україна : збірник матеріалів конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2022. – С. 96-98. – Бібліогр.: 2 назви.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/49310ukнановимірюваннядестабілізуючі факторивипадкові процесиArticleC. 96-98531.7:62-2:629.7 (043.3)