Matyash, I. E.Minaylova, I. A.Mischuk, O. N.Oliinyk, O. O.Serdega, B. K.Tsyganok, B. A.Матяш, І. Є.Міняйлова, I. A.Miщук, О. М.Олійник, O. O.Сердега, Б. К.Циганок, Б. А.Матяш, И. Е.Миняйлова, И. А.Мищук, А. М.Олийник, О. О.Сердега, Б. К.Цыганок, Б. А.2015-01-152015-01-152014Detection of stresses induced by heat flux in a solid by using a photoelastic microscope / I. E. Matyash, I. A. Minaylova, O. N. Mischuk [et al.] // Electronics and Communications : научно-технический журнал. – 2014. – Т. 19, № 2(79). – С. 9–22. – Библиогр.: 20 назв.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/10114enmodulation polarimetrybirefringenceheat flowthermoelastisityphotoelastic microscopeмодуляційна поляриметріядвопроменезаломленнятепловий потіктермопружністьфотопружний мікроскопмодуляционная поляриметриядвулучепреломлениетепловой потоктермоупругостьфотоупругий микроскопDetection of stresses induced by heat flux in a solid by using a photoelastic microscopeДетектування індукованих тепловим потоком напружень в твердому тілі за допомогою фотопружного мікроскопуДетектирование индуцированных тепловым потоком напряжений в твердом теле с помощью фотоупругого микроскопаArticleС. 9-22534.51; 539.3; 535.347