Мамчур, Я. Д.Іванова, В. В.Монастирський, Г. Є.Мельниченко, Т. В.2019-10-072019-10-072019Виявлення дефектів паяння за допомогою термографії / Я. Д. Мамчур, В. В. Іванова, Г. Є. Монастирський, Т. В. Мельниченко // XVII Всеукраїнська науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених «Теоретичні і прикладні проблеми фізики, математики та інформатики» (Україна, м. Київ, 25-26 квітня 2019 р.) : матеріали конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2019. – С. 37–40. – Бібліогр.: 5 назв.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/29685ukтермографіяSMD-компонентиреакційне паянняArticleС. 37–40621.79:621.382.2