Потієнко, Р. О.Шумков, Ю. С.2023-03-132023-03-132022Потієнко, Р. О. Анализ похибки через вплив паразитних параметрів під час контролю складних електричних кіл / Р. О. Потієнко, Ю. С. Шумков // ХV Науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених «Погляд у майбутнє приладобудування», 14-15 червня 2022 р., м. Київ, Україна : збірник праць конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2022. – С. 216-219. – Бібліогр.: 3 назви.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/53603ukконтроль параметрів електричних кілметод нулів і полюсіввипробувальний сигнал спеціальної формибагатоелементне двополюсне електричне колоАнализ похибки через вплив паразитних параметрів під час контролю складних електричних кілArticleС. 216-219621.317