Королевич, Любомир МиколайовичПришлюк, Андрій Андрійович2025-07-292025-07-292025Пришлюк, А. А. Стенд для вимірювання ємності напівпровідникових приладів : дипломна робота … бакалавра : 153 Мікро- та наносистемна техніка / Пришлюк Андрій Андрійович. – Київ, 2025. – 55 с.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/75289Об`єкт дослідження: прилади твердотільної електроніки. Предмет дослідження: ємність напівпровідникових приладів. Мета роботи: Розробити стенд для вимірювання ємності напівпровідникових приладів. В роботі було розглянуто існуючу проблему паразитної ємності в приладах напівпровідникової електроніки , означено причини виникнення такої проблеми та її можливий вплив на безпосереднє функціонування цих приладів , здійснено аналіз різних методів вимірювання ємності , а також обгрунтовано застосування нового методу вимірювання ємності який буде найбільш оптимальним саме для цієї задачі та встановлено його переваги над іншими існуючими методами. Встановлено що з його допомогою можна визначати величину ємності широкого ряду приладів твердотільної електроніки без обмежень по напрузі і частоті.55 с.ukємність напівпровідникових приладіввимірювання ємностіsemiconductorscapacitance of semiconductor devicescapacitance measurementBachelor Thesis