Мельничук, Б. П.Шевченко, В. В.2023-11-072023-11-072022Мельничук, Б. П. Контроль параметрів шорсткості поверхні деталей приладів в умовах автоматизованого виробництва / Б. П. Мельничук, В. В. Шевченко // XVIII Науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених “Ефективність та автоматизація інженерних рішень у приладобудуванні”, 06-07 грудня 2022 р, м. Київ, Україна : збірник праць конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2022. – С. 95-97. – Бібліогр.: 4 назви.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/62036В роботі представлено систему контролю параметрів якості поверхні, а саме геометричного параметру шорсткості за допомогою методу хроматичного конфокального зондування. Розроблена принципова схема та блок-схема системи вимірювання параметрів шорсткості поверхні деталей приладів.ukпараметри шорсткості поверхніякість поверхні деталей приладівсистема контролюArticleС. 95-97621.9.08:658.562