Чиж, Ігор ГенріховичГолембовський, Олександр ОлексійовичChyzh, Igor G.Holembovsky, Oleksandr O.Чиж, Игорь ГенриховичГолембовский, Александр Алексеевич2016-11-232016-11-232016Чиж І. Г. Спосіб визначення RMS опромінення зображення протяжного джерела методом мікрофотометрії / І. Г. Чиж, О. О. Голембовський// Наукові вісті НТУУ «КПІ» : міжнародний науково-технічний журнал. – 2016. – № 1(105). – С. 124–130. – Бібліогр.: 7 назв.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/18161ukRMS зображення протяжного джерелаRMS абераційної плямимікрофотометрія зображення джерела світлаRMS image extended sourceRMS operating spotsmicrophotometry image light sourceRMS изображения протяженного источникаRMS аберрационного пятнамикрофотометрия изображения источника светаСпосіб визначення RMS опромінення зображення протяжного джерела методом мікрофотометріїMethod of Determination of RMS Exposure of Extended Source Image by MicrophotometryСпособ определения RMS облучения изображения протяженного источника методом микрофотометрииArticleС. 124-130https://doi.org/10.20535/1810-0546.2016.1.58874535(075)