Грицевич, І. Р.Піддубний, В. О.2021-01-152021-01-152016Грицевич, І. Р. Прилад для дослідженні характеристик напівпровідникових елементів / Грицевич І. Р., Піддубний В. О. // Міжнародна науково-технічна конференція «Радіотехнічні поля, сигнали, апарати та системи» : матеріали конференції 14 – 20 березня 2016 р., м. Київ, Україна / КПІ ім. Ігоря Сікорського, РТФ. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2016. – С. 63–65. – Бібліогр.: 4 назви .https://ela.kpi.ua/handle/123456789/38707ukхарактерографхарактеристики транзистораСАПРcurve tracerthe transistor characteristicsCADхарактериографхарактеристики транзистораСАПРArticleС. 63–65